半自動(dòng)臺(tái)階儀JS100B提供兩個(gè)彩色攝像頭對(duì)樣品和針尖同時(shí)成像，可無畸變的觀察樣品區(qū)，方便定位特征區(qū)域，同時(shí)探針掃描時(shí)可實(shí)時(shí)觀察掃描區(qū)域，擁有高精度、高分解能，搭配一體花崗巖結(jié)構(gòu)，提供穩(wěn)定可靠的重復(fù)性測量。

產(chǎn)品特色

納米級(jí)測試精度，標(biāo)準(zhǔn)偏差0.5nm以內(nèi)

可測樣品厚度范圍0-10mm；超出可定制

操作流程直觀，軟件緊密貼合客戶需求，上手更快

儀器結(jié)構(gòu)模塊化設(shè)計(jì)，安裝維護(hù)簡易快捷

大行程超平面掃描技術(shù)（行程55mm，平坦度優(yōu)于20nm）

超微壓力，恒定控制（探針壓力0.5~50mg）

大帶寬大行程，納米微動(dòng)臺(tái)技術(shù)（行程80um，分辨率0.05nm，帶寬10KHz）

產(chǎn)品結(jié)構(gòu)

產(chǎn)品優(yōu)勢

穩(wěn)定的重復(fù)性

1um標(biāo)準(zhǔn)樣品30次掃描偏差極值小于10nm，準(zhǔn)確度（1σ）小于0.5nm。

實(shí)時(shí)觀察掃描區(qū)域

金剛石針尖

無畸變的觀察樣品區(qū)

應(yīng)用領(lǐng)域

半導(dǎo)體、太陽能、LED、光電子、生物醫(yī)學(xué)器件、MEMS、薄膜化學(xué)、圖層、平板顯示、觸摸屏、材料學(xué)

應(yīng)用示例

測金屬片

測膜厚

測電極